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Autor*in
Klein, A. (1)
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Erscheinungsjahr
1997
(1)
Dokumenttyp
Zeitschriftenartikel
(1)
Sprache
Englisch
(1)
Referierte Publikation
ja
(1)
Schlagworte
AES (1)
(entfernen)
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Treffer
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bis
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RIS
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AES Depth Profiling of Semiconducting Epitaxial Layers with Thicknesses in the Nanometre Range Using an Ion Beam Bevelling Technique
(1997)
Procop, Mathias
;
Klein, A.
;
Rechenberg, I.
;
Krüger, D.
1
bis
1
Einverstanden
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