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Autor*in
Schultze, Dietrich (2)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
2000
(1)
1996
(1)
Dokumenttyp
Beitrag zu einem Tagungsband (2)
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Sprache
Englisch
(2)
Referierte Publikation
nein
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Certification of the phase composition of a BAM reference material by an interlaboratory comparison applying X-ray and neutron diffraction
(2000)
Peplinski, Burkhard
;
Wenzel, J.
;
Schultze, Dietrich
Improved X-ray powder diffraction data for the disordered n-Cu6Sn5 alloy phase
(1996)
Peplinski, Burkhard
;
Schultze, Dietrich
;
Schierhorn, Eike
;
Schulz, Gert
1
bis
2
Einverstanden
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