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Hantsche, Harald (43)
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Vergleich von Matrix-Korrekturprogrammen für die quantitative Röntgenmikroanalyse
(1982)
Hantsche, Harald
;
Kempf, Gerhard
Oberflächenspezifische Analysenverfahren (AES/SAM, ESCA/XPS, SIMS) und ihr Einsatz zur Untersuchung von Verschleiß-Schutzschichten
(1982)
Hantsche, Harald
;
Habig, Karl-Heinz
Fortschritte bei der Automatisierung der energiedispersiven Röntgenmikroanalyse
(1982)
Hantsche, Harald
;
Schmidt, Dieter
;
Kempf, Gerhard
;
Treu, Dieter
Ein verbessertes Verfahren zum Untergrundabzug bei energiedispersiven Röntgenspektren
(1982)
Hantsche, Harald
Diffusionsbarrieren zur Verbesserung der Elektrodenstandmenge beim Widerstandspunktschweißen von Stahl - Untersuchung von Fremdschichten auf den Elektrodenarbeitsflächen und den Elektrodeneindrücken
(1985)
Hantsche, Harald
;
Krause, Hans-Joachim
;
Preß, Henning
;
Simon, Götz
Eine verbesserte Schaltung zur Pulse-Pile-up-Korrektur bei einem EDX-System
(1985)
Hantsche, Harald
;
Kempf, Gerhard
;
Mesterharm, G.
Kennzeichnung von Verschleisserscheinungsformen durch Rasterelektronenmikroskopie und Augerelektronenspektroskopie
(1985)
Habig, Karl-Heinz
;
Hantsche, Harald
Probleme der quantitativen Analyse mit energiedispersiven Röntgenmikroanalysatoren
(1979)
Hantsche, Harald
Gesichtspunkte bei der Beschaffung eines Oberflächenanalysengerätes für AES/SAM, ESCA, SIMS und ISS
(1981)
Hantsche, Harald
Energiedispersive Röntgenmikroanalyse - Anwendungsgebiete, Grenzen und Fehlermöglichkeiten
(1981)
Hantsche, Harald
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