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Carrying out dimensional measurements by CT means assessing coordinates in space. CT must therefore be treated as a coordinate measuring technique similar to optical or tactile Coordinate Measuring Machines (CMMs). The well-established standards and guidelines for the acceptance- and verificationtesting of CMMs require the use of calibrated reference standards to achieve measurement machine characteristics.
Hence, transferring these concepts from coordinate metrology to CT, a dedicated CT-specific reference standard was designed, manufactured and calibrated using a tactile CMM. For comparison purposes, a CAD model was created by reverse engineering using the calibration data. The calibrated model was fed into a virtual CT and the measurement process was simulated. The reference standard was measured by micro-CT.
By comparing the characteristics of the measurement output of CT and the output gained from simulation, the influences of measurement artefacts can be judged, for the first time, in analogy to existing Guidelines of coordinate metrology.
Die industrielle Computertomographie (CT) ist ein gut bekanntes Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von Werkstücken. In den letzten Jahren wird die CT aber zunehmend auch für dimensioneile Messungen von Werkstücken eingesetzt. Der wesentliche Vorteil der CT liegt in der Kompletterfassung mit hoher Messpunktdichte, die auch für andere Messverfahren unzugängliche, innere Geometrien einschließt. An kleinen Bauteilen können Strukturen bis herunter zu wenigen Mikrometern gemessen werden, wodurch sich das Verfahren gut für die Messung von Mikroteilen eignet. Nachteilig ist, dass viele Einflussgrößen das Messergebnis beeinflussen, was die Rückführung der Messergebnisse, die Bestimmung der Messunsicherheit und die Definition von Spezifikationen für CT-Anlagen erschwert.
Der Beitrag stellt nach einer Einführung in das Verfahren Anwendungsbeispiele der CT an Mikroteilen vor. Darüber hinaus geht der Beitrag auf Prüfkörper und -verfahren zur Einmessung und Überprüfung von CT-Anlagen ein und berichtet über aktuelle Normungsaktivitäten. Abschließend werden Möglichkeiten zur weiteren Steigerung der Auflösung aufgezeigt, um zukünftig möglicherweise auch Nanogeometrien messen zu können.
By means of synchrotron X-ray computed tomography, model composites consisting of silica and styrenebutadiene rubber were studied with a very high spatial resolution. By our analysis technique we were able to determine the nano- and micro dispersion from the experimental results by our numerical analysis. These results are discussed with respect to crucial advantages of the generically 3-dimensional tomography technique as compared to 2-dimensional methods. Our quantitative analysis of the 3d images demonstrates that in the case of our model composites the filler dispersion is good, independent on the filler concentration. Our new 3-dimensional results evidence that considering only 2-d pictures may lead to ambiguities that can lead to wrong conclusions.