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Organisationseinheit der BAM
Die Festlegung von einheitlicher Terminologie, Schnittstellen sowie Mess- und Prüfverfahren in Normen schafft Vertrauen bei Endnutzern und Investoren und ebnet den Weg für weitere marktfähige Innovationen. Wer die Norm setzt, macht den Markt. In dem sich schnell entwickelnden Gebiet der Nanotechnologien wurden 2005 in ISO (International Organisation for Standardization), IEC (International Electrotechnical Commission) und CEN (Comité Européen de Normalisation) neue Normungsausschüsse etabliert, die jeweils den Titel Nanotechnologies führen. Terminologie und Nomenklatur, Messtechnik, Gesundheit, Sicherheit und Umwelt sowie Materialspezifikationen bilden den Rahmen, aus denen die aktuellen Normungsthemen generiert werden. Deutschland ist aktiv an diesen internationalen Anstrengungen beteiligt, insbesondere an den wirtschaftlich wichtigen Themen Terminologie und den in der öffentlichen Diskussion besonders aufmerksam verfolgten Feldern Umwelt- und Arbeitsschutz.
Durch den großflächigen Einsatz der Computertomographie (CT) in unterschiedlichen Industriebereichen steigen auch die Anforderungen an die quantitative Bildanalyse. Subjektive Bildwahrnehmung muss durch objektive Algorithmen ersetzt werden. In diesem Artikel stellt die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), die seit den 1980er Jahren an der Entwicklung der industriellen CT beteiligt ist, anhand ausgewählter Beispiele den aktuellen Stand ihrer Analysemethoden an verschiedenen Anwendungsbeispielen der CT vor.