Filtern
Dokumenttyp
- Zeitschriftenartikel (3) (entfernen)
Referierte Publikation
- ja (3)
Schlagworte
- Material analysis (3) (entfernen)
In this paper, members of three research teams, namely the Turfan Project of the Berlin BrandenburgAcademy of Sciences and Humanities, the Berlin-based research project on pigments in Central Asianpaper manuscripts, and the Hamburg-based project on the history and typology of Central Asian papermanuscripts, present some of the results of their cooperation. The investigated manuscripts belong tothe Berlin Turfan Collection. On the basis of different examples the contribution of scientific methods tophilological scholarship within a multidisciplinary approach is demonstrated.
Elementanalyse mit Röntgenfluoreszenzspektrometrie direkt am Materialstrom in Produktionsprozessen gewinnt zunehmend an Bedeutung. Die Röntgenfluoreszenzspektrometrie kann aufgrund der technischen Entwicklung mittlerweile ohne aufwändige Probenvorbereitung als aussagekräftige Informationsquelle für Stoffparameter im industriellen Prozess eingesetzt werden. Der Einsatz von online Röntgenfluoreszenzanalyse zahlt sich sowohl finanziell als auch zeitlich schnell aus, da sie sowohl für den ökonomischen Einsatz von Rohmaterialien, als auch z. B. im Materialrecycling zu gebrauchen ist. In diesem Beitrag werden vier unterschiedliche Einsatzmöglichkeiten beschrieben.
Synchrotron radiation (SR) has been used in recent years as an excellent excitation source for X-ray fluorescence spectrometry. SR offers, in contrast to conventional X-ray sources, highly brilliant polychromatic, polarized radiation with which micro-domain X-ray fluorescence spectrometry becomes possible. A feasibility study of utility, conducted at BESSY (Berlin) and at DELTA (Dortmund), both synchrotron facilities of the third generation, to evaluate the use of wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry in combination with synchrotron radiation is presented. First results for material analysis, obtained by combining the synchrotron radiation and a commercially available spectrometer commonly attached to a scanning electron microscope, are presented. The spectrometer, of the linear type, uses curved focusing Bragg-crystals of the Johann type which leads to a high spectral resolution up to 3 eV. Examples of micro-domain analyses are presented and compared with those obtained by synchrotron radiation induced energy dispersive X-ray fluorescence.