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Rechenberg, I. (3)
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Erscheinungsjahr
1997
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1995
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Dokumenttyp
Zeitschriftenartikel
(3)
Sprache
Englisch
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Referierte Publikation
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Schlagworte
AES
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Depth profiling
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Ion beam bevelling
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TEM
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AES Depth profiling of semiconducting multilayer structures using an ion beam bevelling technique
(1997)
Procop, Mathias
;
Klein, A.
;
Rechenberg, I.
;
Krüger, D.
AES Depth Profiling of Semiconducting Epitaxial Layers with Thicknesses in the Nanometre Range Using an Ion Beam Bevelling Technique
(1997)
Procop, Mathias
;
Klein, A.
;
Rechenberg, I.
;
Krüger, D.
TEM Characterization of the Interface Quality of MOVPE Grown Strained InGaAs/GaAs Heterostructures
(1995)
Höpner, A.
;
Seitz, H.
;
Rechenberg, I.
;
Bugge, C.
;
Procop, Mathias
;
Scheerschmidt, E.
;
Queisser, A.
1
bis
3
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