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Heike, U. (2)
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New Digital Radiography Procedure Exceeds Film Sensitivity Considerably in Aerospace Applications
(2006)
Bavendiek, K.
;
Heike, U.
;
Meade, W. D.
;
Zscherpel, Uwe
;
Ewert, Uwe
Best energy selection for different applications with digital detector arrays from 20 to 600 keV
(2012)
Bavendiek, K.
;
Heike, U.
;
Kosanetzky, J.M.
;
Ewert, Uwe
;
Zscherpel, Uwe
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