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Chamfer distance for non-linear registration of Triply Periodic Minimal Surface lattices
- We present a 3D image registration technique for non-linear deformation estimation in Additive Manufacturing processes. The methodology involves comparing X-ray Computed Tomography (XCT) data with Computer Aided Design (CAD) models for Triply Periodic Minimal Surface (TPMS) lattices and employs the Chamfer distance to refine mesh non-linear deformations.
| Autor*innen: | Michela LapennaORCiD, Francesco Faglioni, Keerthana Chand, Bardia Hejazi, Rita Fioresi, Giovanni BrunoORCiD |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
| Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
| Sprache: | Englisch |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Additive Manufacturing Letters |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2025 |
| Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
| 8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung | |
| Veröffentlichende Institution: | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Verlag: | Elsevier B.V. |
| Jahrgang/Band: | 14 |
| Aufsatznummer: | 100299 |
| Erste Seite: | 1 |
| Letzte Seite: | 8 |
| DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
| Freie Schlagwörter: | Defects; Digital Twin; Machine Learning; Registration; X-ray Computed tomography |
| Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
| Material / Additive Fertigung | |
| DOI: | 10.1016/j.addlet.2025.100299 |
| URN: | urn:nbn:de:kobv:b43-637367 |
| ISSN: | 2772-3690 |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access") |
| Lizenz (Deutsch): | Creative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International |
| Datum der Freischaltung: | 21.07.2025 |
| Referierte Publikation: | Ja |
| Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 04.08.2025 |
| Schriftenreihen ohne Nummerierung: | Wissenschaftliche Artikel der BAM |


