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Chamfer distance for non-linear registration of Triply Periodic Minimal Surface lattices

  • We present a 3D image registration technique for non-linear deformation estimation in Additive Manufacturing processes. The methodology involves comparing X-ray Computed Tomography (XCT) data with Computer Aided Design (CAD) models for Triply Periodic Minimal Surface (TPMS) lattices and employs the Chamfer distance to refine mesh non-linear deformations.

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Autor*innen:Michela LapennaORCiD, Francesco Faglioni, Keerthana Chand, Bardia Hejazi, Rita Fioresi, Giovanni BrunoORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Additive Manufacturing Letters
Jahr der Erstveröffentlichung:2025
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:Elsevier B.V.
Jahrgang/Band:14
Aufsatznummer:100299
Erste Seite:1
Letzte Seite:8
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Defects; Digital Twin; Machine Learning; Registration; X-ray Computed tomography
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Additive Fertigung
DOI:10.1016/j.addlet.2025.100299
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-637367
ISSN:2772-3690
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International
Datum der Freischaltung:21.07.2025
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:04.08.2025
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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