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Green Fabrication of Sulfonium-Containing Bismuth Materials for High-Sensitivity X-Ray Detection

  • Organic–inorganic hybrid materials based on lead and bismuth have recently been proposed as novel X- and gamma-ray detectors for medical imaging, non-destructive testing, and security, due to their high atomic numbers and facile preparation compared to traditional materials like amorphous selenium and Cd(Zn)Te. However, challenges related to device operation, excessively high dark currents, and long-term stability have delayed commercialization. Here, two novel semiconductors incorporating stable sulfonium cations are presented, [(CH3CH2)3S]6Bi8I30 and [(CH3CH2)3S]AgBiI5, synthesized via solvent-free ball milling and fabricated into dense polycrystalline pellets using cold isostatic compression, two techniques that can easily be upscaled, for X-ray detection application. The fabricated detectors exhibit exceptional sensitivities (14 100–15 190 µC Gyair−1 cm−2) and low detection limits (90 nGyair s−1 for [(CH3CH2)3S]6Bi8I30 and 78 nGyair s−1 for [(CH3CH2)3S]AgBiI5), far surpassingOrganic–inorganic hybrid materials based on lead and bismuth have recently been proposed as novel X- and gamma-ray detectors for medical imaging, non-destructive testing, and security, due to their high atomic numbers and facile preparation compared to traditional materials like amorphous selenium and Cd(Zn)Te. However, challenges related to device operation, excessively high dark currents, and long-term stability have delayed commercialization. Here, two novel semiconductors incorporating stable sulfonium cations are presented, [(CH3CH2)3S]6Bi8I30 and [(CH3CH2)3S]AgBiI5, synthesized via solvent-free ball milling and fabricated into dense polycrystalline pellets using cold isostatic compression, two techniques that can easily be upscaled, for X-ray detection application. The fabricated detectors exhibit exceptional sensitivities (14 100–15 190 µC Gyair−1 cm−2) and low detection limits (90 nGyair s−1 for [(CH3CH2)3S]6Bi8I30 and 78 nGyair s−1 for [(CH3CH2)3S]AgBiI5), far surpassing current commercial detectors. Notably, they maintain performance after 9 months of ambient storage. The findings highlight [(CH3CH2)3S]6Bi8I30 and [(CH3CH2)3S]AgBiI5 as scalable, cost-effective and highly stable alternatives to traditional semiconductor materials, offering great potential as X-ray detectors in medical and security applications.zeige mehrzeige weniger

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Autor*innen:A. Starkholm, Dominik Al-SabbaghORCiD, S Sarisozen, A von Reppert, M Rössle, Markus Ostermann, E Unger, Franziska EmmerlingORCiD, L Kloo, P Svensson, F Lang, O. Maslyanchuk
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Advanced Materials
Jahr der Erstveröffentlichung:2025
Organisationseinheit der BAM:1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien
1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien / 1.4 Non-Target-Analytik
6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.0 Abteilungsleitung und andere
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:Wiley VHC-Verlag
Aufsatznummer:2418626
Erste Seite:1
Letzte Seite:10
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Mechanochemistry; X-ray detectors
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Materialdesign
DOI:10.1002/adma.202418626
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-630306
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International
Datum der Freischaltung:05.05.2025
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:05.05.2025
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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