Anwendung der zyklischen R-Kurven-Analyse zur Ermittlung des Kitagawa-Takahashi-Diagramms
- Die ausgeprägte Langzeitfestigkeit eines Werkstoffes entspricht der maximalen Spannung, unterhalb derer alle ursprünglich wachstumsfähigen Mikrorisse arretieren. Für fehlerbehaftete Werkstoffe stellt das Kitagawa-Takahashi (KT)-Diagramm die Abhängigkeit der ausgeprägten Langzeitfestigkeit von der Defektgröße dar. Das KT-Diagramm kann mit großem Aufwand experimentell bestimmt oder durch verschiedene Modelle abgeschätzt werden. Solche Ansätze ergeben oft nichtkonservative Prognosen und berücksichtigen weder den Aufbau der Rissschließeffekte noch lokale Spannungen. In dieser Arbeit wird ein Kurzrissmodell auf Grundlage der zyklischen R-Kurve und des Rissarrestphänomens zur Abschätzung des KT-Diagramms vorgestellt. Die Abschätzungen werden mit experimentellen Daten validiert, die mit gekerbten Proben nach dem Treppenstufenverfahren ermittelt wurden.
| Autor*innen: | Larissa DuarteORCiD |
|---|---|
| Koautor*innen: | Yusuf Kiyak, Mauro MadiaORCiD, Naveen Kanna, Jürgen Bär |
| Dokumenttyp: | Vortrag |
| Veröffentlichungsform: | Präsentation |
| Sprache: | Deutsch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2025 |
| Organisationseinheit der BAM: | 9 Komponentensicherheit |
| 9 Komponentensicherheit / 9.4 Integrität von Schweißverbindungen | |
| DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
| Freie Schlagwörter: | KT-Diagramm; Langzeitfestigkeit; Zyklische R-Kurven-Analyse |
| Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
| Material / Degradationsmechanismen | |
| Veranstaltung: | AK-Bruch 2025 |
| Veranstaltungsort: | Cologne, Germany |
| Beginndatum der Veranstaltung: | 18.02.2025 |
| Enddatum der Veranstaltung: | 19.02.2025 |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
| Datum der Freischaltung: | 24.02.2025 |
| Referierte Publikation: | Nein |
| Eingeladener Vortrag (wissenschaftliche Konferenzen): | Nein |

