Embedded Sensors for Quality Control and Structural Integrity Monitoring of Large scale 3DCP Structures
- Additive manufacturing of concrete structures is a novel and emerging technology. Free contouring in civil engineering, which allows for entirely new designs, is a significant advantage. Although several techniques and approaches demonstrate these advantages, quality control during printing is highly challeng-ing and rarely applied. Due to the continuous mixing process used in 3D concrete printing, it is impossible to exclude variations in the dry mixture or water content, and a single test sample is insufficient to represent the whole structure. A defect in one layer during printing can affect the integrity of the entire structure.
| Autor*innen: | Amarteja KocherlaORCiD |
|---|---|
| Koautor*innen: | Christoph StrangfeldORCiD, Götz HüskenORCiD, Eric SchönseeORCiD, Olubunmi Anthony JeyifousORCiD |
| Dokumenttyp: | Vortrag |
| Veröffentlichungsform: | Präsentation |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2024 |
| Organisationseinheit der BAM: | 7 Bauwerkssicherheit |
| 7 Bauwerkssicherheit / 7.4 Baustofftechnologie | |
| 8 Zerstörungsfreie Prüfung | |
| 8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.2 Zerstörungsfreie Prüfmethoden für das Bauwesen | |
| DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurbau |
| Freie Schlagwörter: | Additive manufacturing; Concrete printing; Embedded sensors; Piezo sensors |
| Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Infrastruktur |
| Infrastruktur / Green Intelligent Building | |
| Veranstaltung: | 34th Annual Conference & Exhibition on non destructive evaluation & enabling technologies |
| Veranstaltungsort: | Chennai, India |
| Beginndatum der Veranstaltung: | 12.12.2024 |
| Enddatum der Veranstaltung: | 14.12.2024 |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
| Datum der Freischaltung: | 13.02.2025 |
| Referierte Publikation: | Nein |
| Eingeladener Vortrag (wissenschaftliche Konferenzen): | Nein |

