Metadaten| Autor*innen: | Manuela SchiekORCiD, Alexey Minenkov, Sophia Hollweger, Jiri Duchoslav, Otgonbayar Erdene-Ochir, Matthias Weise, Elena Ermilova, Andreas HertwigORCiD |
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| Dokumenttyp: | Forschungsdatensatz |
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| Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
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| Sprache: | Englisch |
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| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2024 |
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| Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
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| 6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse |
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| Herausgeber (Institution): | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
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| Verlag: | Refractiveindex.info |
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| Freie Schlagwörter: | Electrochemical Degradation; Indium Tin Oxide; Magnetron Sputtering; Optical constants; Spectroscopic Ellipsometry |
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| Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
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| Material / Nano |
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| Art der Ressource: | Datensatz |
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| Ort der Datenerhebung: | Berlin, Germany; Linz, Austria |
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| URL: | https://refractiveindex.info/?shelf=other&book=In2O3-SnO2&page=Minenkov-glass |
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| URL: | https://refractiveindex.info/?shelf=other&book=In2O3-SnO2&page=Minenkov-wafer-top |
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| URL: | https://refractiveindex.info/?shelf=other&book=In2O3-SnO2&page=Minenkov-wafer-bottom |
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| Zugehöriger Identifikator: | https://doi.org/10.1021/acsami.3c17923 |
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| Beschreibung der Datei(en) : | Refractive index of ITO thin layers on different substrates, determined by means of spectroscopic multiangle ellipsometry in the wavelength range between 192 nm and 1692 nm. |
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| Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access") |
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| Lizenz (Deutsch): |  Creative Commons - CC0 1.0 - Universell - Public Domain Dedication |
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| Datum der Freischaltung: | 28.03.2024 |
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| Referierte Publikation: | Nein |
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| Schriftenreihen ohne Nummerierung: | Forschungsdatensätze der BAM |
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