How to perform reliable xps-measurements?
- Reliable measurements are a great challenge in X-ray photoelectron spectroscopy. It will be shown, how to check the performance and calibration of the instrument, the charge compensation, quantification, fitting, and depth profiling.
| Autor*innen: | Jörg RadnikORCiD |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Vortrag |
| Veröffentlichungsform: | Präsentation |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2024 |
| Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
| 6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
| DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
| Freie Schlagwörter: | Reliability; Reproducibility crisis; X-ray photoelectron spectroscopy |
| Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
| Material / Nano | |
| Veranstaltung: | Course for PhD students at SFB 1073 |
| Veranstaltungsort: | Göttingen, Germany |
| Beginndatum der Veranstaltung: | 23.02.2024 |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
| Datum der Freischaltung: | 04.03.2024 |
| Referierte Publikation: | Nein |
| Eingeladener Vortrag: | Ja |
