First Experiences with the new HAXPES@BAM
- This talk was part of the inauguration event for the new x-ray photoelectron spectrometer with the possibility to measure HAXPES (hard energy x-ray photoelectron spectroscopy). With HAXPES detailed chemical information can now be gained not only from the first outermost nanometres of the sample surface, but also from deeper regions. In this talk first results and experiences handling the spectrometer are shown.
Autor*innen: | Xenia KniggeORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2022 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | HAXPES; Nano@BAM; Surface Analysis; XPS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | Inauguration of the HAXPES@BAM - A new Hard-X-Ray Photoelectron Spectrometer |
Veranstaltungsort: | Online meeting |
Beginndatum der Veranstaltung: | 25.01.2022 |
Enddatum der Veranstaltung: | 25.01.2022 |
URL: | https://www.bam.de/Content/EN/Events/2022/2022-01-25-hapex.html |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 09.03.2022 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |