Scatter imaging – Simulation of aperture focusing by deconvolution

  • X-ray scatter imaging is a well-established NDT technique to inspect complex objects using only a single-sided access. We present a specially designed multi-slit scatter camera consisting of several twisted slits which are parallelly arranged in a metal block. The camera projects one image per slit to the digital detector array, where the images are overlaying each other. The aperture is corrected based on a de-convolution algorithm to focus the overlaying projections into a single representation of the object. To achieve high scatter intensities from an object, it is necessary to optimize the parameters of the scatter system by simulation.

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  • 10_1109_FENDT_2017_8584606.pdf
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Autor*innen:Gerd-Rüdiger Jaenisch, Frank Wieder, Justus Vogel, Uwe Ewert, Carsten BellonORCiD, Magdalena Messerschmid
Persönliche Herausgeber*innen:C. Xu
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of 2017 IEEE far east NDT new technology and application forum (FENDT 2017)
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere
Verlag:IEEE
Verlagsort:Piscataway, NJ
Erste Seite:301
Letzte Seite:306
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Aperture focusing; Computer simulation; Deconvolution; Scatter imaging
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:IEEE Far East NDT New Technology & Application Forum
Veranstaltungsort:Xi'an, China
Beginndatum der Veranstaltung:22.06.2017
Enddatum der Veranstaltung:24.06.2017
DOI:10.1109/FENDT.2017.8584606
ISBN:978-1-5386-1615-4
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:03.07.2019
Referierte Publikation:Nein
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