Measurement of the thickness and nature of nanoparticle coatings - ISO/PWI TR 23173

  • This presentation explains the outline and scientific content of the ISO technical report 23173 "Measurement of the thickness and nature of nanoparticle coatings using electron spectroscopies". This technical report deals with those electron spectroscopy methods that are able to determine the coating thickness of nanoparticles. This specifically includes X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), energy-resolved X-Ray photoelectron spectroscopy (ERXPS) using synchrotron radiation, near abient pressure photoelectron spectroscopy (NAPXPS) and Auger electron spectroscopy (AES).

Volltext Dateien herunterladen

  • AnjaMueller_ISO-PWI-TR-23173.pdf
    eng

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Anja MüllerORCiD
Koautor*innen:Wolfgang Unger, Thomas Wirth, Marit Kjaervik, D. Cant, A. Shard, C. Clifford
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:AES; Core-shell nanoparticles; Electron spectroscopy; Synchrotron radiation; XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:18. Sitzung des DIN-Normenausschusses 062-08-16 AA
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:08.11.2018
Enddatum der Veranstaltung:08.11.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:12.11.2018
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.