Microstructure characterization of materials using X-ray refraction techniques

  • X-ray imaging techniques have an enormous potential to understand the microstructure, its evolution, and its link to mechanical, thermal, and transport properties. In this lecture we report the use of a powerful, yet not so wide-spread, set of X-ray techniques based on refraction effects. X-ray refraction allows determining the internal specific surface of materials (surface per unit volume) in a non-destructive fashion, position and orientation sensitive, and with a nanometric detectability. We demonstrate showcases of ceramics and composite materials, where microstructural parameters could be achieved in a way unrivalled even by high-resolution techniques such as electron microscopy or computed tomography. We present in situ analysis of the damage evolution during tensile load and the identification of void formation in parts produced by selective laser melting.

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD
Koautor*innen:Andreas Kupsch, René Laquai, J. Nellesen, W. Tillmann, G. Kasperovich, G. Requena, Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Cracks; Pores; X-ray refraction
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Degradation von Werkstoffen
Veranstaltung:MIMENIMA Summerschool
Veranstaltungsort:TU-Bremen, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:22.8.2018
Enddatum der Veranstaltung:23.8.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:28.08.2018
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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