Analytical and topographical Reference Material for the Nanoscale
- Reliable standards are required to support research and development as well as end-user in application. Appropriate standards have to fulfill three requirements: small uncertainty, easy to use and low overall costs of application. For calibration of microscopes at nanoscale and/or element analysis special requirements for standards are given, which are challenging in manufacture.
| Autor*innen: | I. Busch, Wolfgang UngerORCiD |
|---|---|
| Koautor*innen: | S. Bütefisch, O. Lenck, L. Koenders, T. Weimann, M. Weinert |
| Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
| Veröffentlichungsform: | Präsentation |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
| DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
| Freie Schlagwörter: | Imaging; NoStep Standards; Reference material; XPS |
| Veranstaltung: | Workshop on Reference Nanomaterials |
| Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
| Beginndatum der Veranstaltung: | 14.05.2018 |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
| Datum der Freischaltung: | 13.06.2018 |
| Referierte Publikation: | Nein |

