Analytical and topographical Reference Material for the Nanoscale

  • Reliable standards are required to support research and development as well as end-user in application. Appropriate standards have to fulfill three requirements: small uncertainty, easy to use and low overall costs of application. For calibration of microscopes at nanoscale and/or element analysis special requirements for standards are given, which are challenging in manufacture.

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  • DNS-02-Busch.et.al_20180610.pdf
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Autor*innen:I. Busch, Wolfgang UngerORCiD
Koautor*innen:S. Bütefisch, O. Lenck, L. Koenders, T. Weimann, M. Weinert
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Imaging; NoStep Standards; Reference material; XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:Workshop on Reference Nanomaterials
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:14.05.2018
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:13.06.2018
Referierte Publikation:Nein
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