Metrology for spatially resolved chemical analysis at the micro and nanometre scales Surface Analysis Working Group (SAWG) - Report for 16th Meeting (2017/18)
- Following the 2017 meeting, progress with the Key Comparison CCQM-K153 related to the BET specific surface lead by UNIIM and the Pilot Study P-190 “Thickness Measurement of nm HfO2 Films” lead by KRISS will be discussed. The 16th meeting of SAWG will focus on •survey on CMC claims submitted with reference to K-129 and K-136. •the overall and SAWG specific aspects of the CCQM Strategy process, •a consideration of comparisons on convention methods as recommended by the CCQM Plenary Meeting 2017, •the 2019 CCQM Workshop and paper(s) for Metrologia’s Special Issue, •discussion of future comparisons.
Autor*innen: | Wolfgang UngerORCiD |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Inter-laboratory comparisons; Metrology; Surface chemical analysis |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | 24th meeting of the CCQM 2018 |
Veranstaltungsort: | Paris, France |
Beginndatum der Veranstaltung: | 19.04.2018 |
Enddatum der Veranstaltung: | 20.04.2018 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 24.05.2018 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |