Surface chemical analysis of engineered nanoparticles by means of transmission x-ray microscopy and mass spectrometry

  • PTFE/PS core-shell-nanoparticles were characterised by STXM, T-SEM, and ToF-SIMS. Shell-thicknesses were calculated and compared. Preliminary results from ToF-SIMS showed the capabilities of this method.

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Autor*innen:Anja MüllerORCiD, Markus Schneider
Koautor*innen:Thomas Heinrich
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:STXM; ToF-SIMS
NEXAFS; Nanoparticles; SEM
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:BAM-BfR Seminar
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:15.02.2018
Bemerkung:
Geburtsname von Müller, Anja: Hermanns, A. -  Birth name of Müller, Anja: Hermanns, A.
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:16.02.2018
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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