Surface chemical analysis of engineered nanoparticles by means of transmission x-ray microscopy and mass spectrometry
- PTFE/PS core-shell-nanoparticles were characterised by STXM, T-SEM, and ToF-SIMS. Shell-thicknesses were calculated and compared. Preliminary results from ToF-SIMS showed the capabilities of this method.
| Autor*innen: | Anja MüllerORCiD, Markus Schneider |
|---|---|
| Koautor*innen: | Thomas Heinrich |
| Dokumenttyp: | Vortrag |
| Veröffentlichungsform: | Präsentation |
| Sprache: | Deutsch |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
| DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
| Freie Schlagwörter: | STXM; ToF-SIMS NEXAFS; Nanoparticles; SEM |
| Veranstaltung: | BAM-BfR Seminar |
| Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
| Beginndatum der Veranstaltung: | 15.02.2018 |
| Bemerkung: | Geburtsname von Müller, Anja: Hermanns, A. - Birth name of Müller, Anja: Hermanns, A. |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
| Datum der Freischaltung: | 16.02.2018 |
| Referierte Publikation: | Nein |
| Eingeladener Vortrag (wissenschaftliche Konferenzen): | Nein |

