X-ray refraction 2D and 3D techniques

  • X-ray refraction techniques represent a very promising, yet not so wide-spread, set of X-ray techniques based on refraction effects. They allow determining internal specific surface (surface per unit volume) in a non-destructive fashion, position and orientation sensitive, and with nanometric detectability. While they are limited by the X-ray absorption of the material under investigation, we demonstrate showcases of ceramics and composite materials, where understanding of microstructural features could be achieved in a way unrivalled even by high-resolution techniques such as electron microscopy or computed tomography.

Volltext Dateien herunterladen

  • ICTMS_2017_GB_BAM_FB85_final.pdf
    eng
  • abstract_template_ICTMS2017_GB_AK2.pdf
    eng

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Giovanni BrunoORCiD
Koautor*innen:Andreas Kupsch, Bernd R. Mueller, Axel Lange
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Cearmics; Composites; Cracks; Damage; X-ray refraction
Veranstaltung:ICTMS 2017
Veranstaltungsort:Lund, Sweden
Beginndatum der Veranstaltung:26.06.2017
Enddatum der Veranstaltung:30.06.2017
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:18.07.2017
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.