Numerical Sensitivity Analysis of TRIP-Parameter K on Weld Residual Stresses and Weld Distortion
- A combined experimental numerical approach is applied for a sensitivity analysis of the transformation induced plasticity (TRIP)-parameter K on welding residual stresses and welding distortion for the welding of the low-alloyed high-strength S960QOL with the high-alloyed hig-strength filler material CN13-4-IG. A thermo-mechanical FE model of a real GMA welding process was experimentally validated against termperature field, X-Ray stress measurments and optical distortion measurement. Within the sensititvity analysis K was varied and the influence on the calculated welding residual stresses and welding distortion is evaluated by performing corresponding FEA. The correct order of K magnitude is necessary in order to reproduce the residual stresses qualitatively and quantitatively. For the sufficient reproducing of the welding distortion the transformation induced plasticity can be neglected.
| Autor*innen: | S. Neubert, Andreas PittnerORCiD, Michael RethmeierORCiD |
|---|---|
| Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
| Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
| Sprache: | Englisch |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Mathematical Modelling of Weld Phenomena 11 |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
| Verlag: | Verlag der Technischen Universität Graz |
| Verlagsort: | Graz |
| Erste Seite: | 361 |
| Letzte Seite: | 383 |
| DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
| Freie Schlagwörter: | TRIP |
| Veranstaltung: | 11th International Seminar - Numerical Analysis of Weldability |
| Veranstaltungsort: | Graz, Austria |
| Beginndatum der Veranstaltung: | 27.09.2015 |
| Enddatum der Veranstaltung: | 30.09.2015 |
| ISSN: | 2410-0544 |
| ISBN: | 978-3-85125-490-7 |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
| Datum der Freischaltung: | 09.01.2017 |
| Referierte Publikation: | Nein |

