Depth profiling of electrically non-conductive layered samples by RF-GDOES, HFM plasma SNMS and ToF-SIMS
Autor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
---|---|
Koautor*innen: | Wolfgang Unger, H. Jenett, V. Hoffmann, B. Hagenhoff, S. Kayser, K. Wetzig |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | AOFA 11 (Angewandte Oberflächenanalytik) |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2000 |
Erste Seite: | 1 Seite |
Veranstaltung: | AOFA 11 (Angewandte Oberflächenanalytik) |
Veranstaltungsort: | Leipzig, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2000-09-24 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2000-09-28 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |