Oberflächenprofile partiell kristallisierter Silikatgläser

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Autor*innen:Ralf Müller, Lothar Weh, Stefan ReinschORCiD
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Kurzreferate der 73. Glastechnischen Tagung
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Herausgeber (Institution):Deutsche Glastechnische Gesellschaft
Verlagsort:Frankfurt/Main
Erste Seite:26
Letzte Seite:29
Freie Schlagwörter:Kristallisation; Silikatgläser
Veranstaltung:73. Glastechnische Tagung
Veranstaltungsort:Halle (Saale), Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:1999-05-31
Enddatum der Veranstaltung:1999-06-02
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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