Qualitätssicherung in der Oberflächen- und Schichttechnik mit optischen Verfahren

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Autor*innen:Uwe Beck, Andreas HertwigORCiD, Georg Reiners
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Congress Industrielle Oberflächentechnik (CIO 2005)
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Verlag:Neue Materialien Niedersachsen
Verlagsort:Göttingen
Erste Seite:7-1-7-9
Freie Schlagwörter:Oberflächentechnik; Optische Verfahren; Qualitätssicherung
Veranstaltung:Congress Industrielle Oberflächentechnik (CIO 2005) "Schichten auf Glas und Polymeren - Neue Anwendungen für Optik, Elektronik und Umwelt
Veranstaltungsort:Braunschweig, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2005-02-22
Enddatum der Veranstaltung:2005-02-23
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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