Mikroriss-Charakterisierung mittels Röntgen-Refraktions-Topographie
| Autor*innen: | Manfred P. Hentschel |
|---|---|
| Koautor*innen: | Karl-Wolfram Harbich, Heinz Ivers, Hans-Volker Rudolph, Volker TrappeORCiD, Ute Niebergall |
| Dokumenttyp: | Vortrag |
| Veröffentlichungsform: | Präsentation |
| Sprache: | Deutsch |
| Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | DGZfP-Jahrestagung 2002 |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2002 |
| Veranstaltung: | DGZfP-Jahrestagung 2002 |
| Veranstaltungsort: | Weimar, Germany |
| Beginndatum der Veranstaltung: | 2002-05-06 |
| Enddatum der Veranstaltung: | 2002-05-08 |
| Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
| Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
| Referierte Publikation: | Nein |
| Eingeladener Vortrag (wissenschaftliche Konferenzen): | Nein |

