Über Probleme bei der EDX-Analyse im Energiebereich unterhalb 1 keV

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Mathias ProcopORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung und Analyse von Oberflächen
Jahr der Erstveröffentlichung:1994
Verlag:Ehrenwerth
Verlagsort:Münster, Westf.
Jahrgang/Band:27
Erste Seite:1
Letzte Seite:5
Freie Schlagwörter:EDX; Quantitative analysis; X-ray analysis; X-ray spectrometry
Veranstaltung:27. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO)
Veranstaltungsort:Saarbrücken, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:1994-10-04
Enddatum der Veranstaltung:1994-10-07
ISSN:0340-3815
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Bibliotheksstandort:Pc 126
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.