The InGaAs/SiO2 interface investigated by angle resolved XPS and ellipsometry

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Autor*innen:B. Gruska, K. Wandel, Mathias ProcopORCiD
Persönliche Herausgeber*innen:B. Lengeler
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Formation of semiconductor interfaces
Jahr der Erstveröffentlichung:1993
Herausgeber (Institution):Forschungszentrum, Jülich
Verlag:World Scientific
Verlagsort:Singapore
Jahrgang/Band:4
Erste Seite:373
Letzte Seite:376
Veranstaltung:4th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (ICFSI)
Veranstaltungsort:Jülich, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1993-06-14
Enddatum der Veranstaltung:1993-06-18
ISBN:981-021559-2
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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