Measuring SPM Piezo Displacement Responses

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Metadaten
Autor*innen:Heinz SturmORCiD, M. Heyde, K. Rademann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy today
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Verlag:Microscopy Society of America
Verlagsort:Wappingers Falls, NY
Jahrgang/Band:99
Ausgabe/Heft:4
Erste Seite:24
Letzte Seite:26
ISSN:1551-9295
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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