Measurement of X-Ray Emission Efficiencies for K-Lines

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Autor*innen:Mathias ProcopORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:10
Ausgabe/Heft:4
Erste Seite:481
Letzte Seite:490
Freie Schlagwörter:EMPA; Electron probe microanalysis; Standardless analysis; X-ray emission; X-ray spectrometry; X-ray yield
DOI:10.1017/S1431927604040139
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:07.02.2005
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