MetadatenAutor*innen: | Holger Frenz, Joachim Kinder, Hellmuth Klingelhöffer, Pedro Dolabella PortellaORCiD |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
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Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Rastermikroskopie in der Materialprüfung |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
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Herausgeber (Institution): | Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung |
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Verlag: | DVM, Geschäftsstelle |
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Verlagsort: | Berlin |
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Ausgabe/Heft: | 17 |
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Erste Seite: | 275 |
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Letzte Seite: | 280 |
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Freie Schlagwörter: | Einkristall; Hochtemperatur; Superlegierung |
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Veranstaltung: | 17. Tagung des DVM-Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung |
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Veranstaltungsort: | Halle (Saale), Deutschland |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 1996-03-27 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 1996-03-29 |
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Bemerkung: | Serientitel: Tagung des DVM-Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung – Series title: Tagung des DVM-Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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