Harmonically modulated friction measurements in Scanning Force Microscopy (SFM) - A valuable tool for testing surface properties of micro- and nanomechanical systems

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Autor*innen:Martin Munz
Koautor*innen:Eckhard Schulz, Heinz Sturm
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Workshop Nanotribology: Critical Assessment and Research Needs - National Istitute of Standards and Technology (NIST)
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Veranstaltung:Workshop Nanotribology: Critical Assessment and Research Needs - National Istitute of Standards and Technology (NIST)
Veranstaltungsort:Gaithersburg, MD, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2000-03-13
Enddatum der Veranstaltung:2000-03-15
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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