Scanning Probe Microscopy Techniques for the Examination of Interface Nanomechanics - A Study of Topography, AC Conductivity and Surface Stiffness

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Heinz SturmORCiD
Koautor*innen:Martin Munz, Eckhard Schulz, Andreas Hampe
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Veranstaltung:Workshop: Rastersondenmikroskopie in Forschung und Industrie an der GH Wuppertal
Veranstaltungsort:Wuppertal, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1999-03-11
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.