Scanning Probe Microscopy Techniques to characterise electric and dielectric properties of nanometer sized particles

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Metadaten
Autor*innen:Heinz SturmORCiD
Koautor*innen:M. Heyde, K. Rademann
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):ECOF 7, European Conference Thin Organised Films
Jahr der Erstveröffentlichung:1998
Veranstaltung:ECOF 7, European Conference Thin Organised Films
Veranstaltungsort:Potsdam, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1998-09-18
Enddatum der Veranstaltung:1998-09-18
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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