Scanning Probe Microscopy Techniques for the Examination of Nanomechanics - a study of Topography, AC Conductivity and Surface Stiffness

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Autor*innen:Heinz SturmORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII
Jahr der Erstveröffentlichung:1998
Veranstaltung:Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1998-10-08
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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