Methods for simultaneous measurements of topography and local electrical properties using scanning force microscopy
MetadatenAutor*innen: | Heinz SturmORCiD |
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Koautor*innen: | Wolfgang Stark, V. Bovtun, Eckhard Schulz |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 9th International Symposium on Electrets (ISE9) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
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Veranstaltung: | 9th International Symposium on Electrets (ISE9) |
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Veranstaltungsort: | Shanghai, China |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 1996-09-15 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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