TIME-OF-FLIGHT SIMS AND XPS CHARACTERIZATION OF METAL DOPED POLYMERS

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Metadaten
Autor*innen:Thomas Gross
Koautor*innen:Iris Retzko, Jörg F. Friedrich, Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):13th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics
Jahr der Erstveröffentlichung:2001
Veranstaltung:13th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics
Veranstaltungsort:Nara, Japan
Beginndatum der Veranstaltung:2001-11-11
Enddatum der Veranstaltung:2001-11-16
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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