TIME-OF-FLIGHT SIMS AND XPS CHARACTERIZATION OF METAL DOPED POLYMERS
MetadatenAutor*innen: | Thomas Gross |
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Koautor*innen: | Iris Retzko, Jörg F. Friedrich, Wolfgang Unger |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 13th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2001 |
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Veranstaltung: | 13th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics |
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Veranstaltungsort: | Nara, Japan |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2001-11-11 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2001-11-16 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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