Pulsed laser deposition of EU - Y2O3 thin films on (0001) alpha-Al2O3
- This paper focuses on the preparation and characterization of crystalline thin films of rare-earth-doped sesquioxides (Y2O3, Lu2O3) grown by pulsed laser deposition on single-crystal (0001) sapphire substrates. X-ray diffraction measurements show that the films with thicknesses between 1 nm and 500 nm were highly textured along the 111 direction. Using Rutherford backscattering analysis, the correct stoichiometric composition of the films was established. The emission and excitation spectra of europium-doped films with a thickness 100 nm look similar to those of the corresponding crystalline bulk material, whereas films with a thickness 20 nm show a completely different emission behavior.
Autor*innen: | S. Bär, G. Huber, J. Gonzalo, A. Perea, Martin Munz |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied physics A |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
Verlag: | Springer |
Verlagsort: | Berlin |
Jahrgang/Band: | 80 |
Ausgabe/Heft: | 2 |
Erste Seite: | 209 |
Letzte Seite: | 216 |
Freie Schlagwörter: | Atomic force microscopy; Integrated optical devices; Luminescence; Pulsed laser deposition; X-ray diffraction |
DOI: | 10.1007/s00339-004-3029-8 |
URL: | http://www.sciencedirect.com/science/journal/0926860X |
ISSN: | 0947-8396 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 20.01.2005 |