A new microfocus X-ray source iMOXS for high sensitive XRF analysis in scanning electron microscopes

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Autor*innen:Mathias ProcopORCiD
Koautor*innen:A. Bjeomikov, N. Langhoff, V. Arkadiev, R. Wedell, F. Eggert, Vasile-Dan Hodoroaba
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):European Conference on X-Ray Spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Veranstaltung:European Conference on X-Ray Spectrometry
Veranstaltungsort:Alghero, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:2004-06-06
Enddatum der Veranstaltung:2004-06-11
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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