A new microfocus X-ray source iMOXS for high sensitive XRF analysis in scanning electron microscopes
Autor*innen: | Mathias ProcopORCiD |
---|---|
Koautor*innen: | A. Bjeomikov, N. Langhoff, V. Arkadiev, R. Wedell, F. Eggert, Vasile-Dan Hodoroaba |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | European Conference on X-Ray Spectrometry |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
Veranstaltung: | European Conference on X-Ray Spectrometry |
Veranstaltungsort: | Alghero, Italy |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-06-06 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2004-06-11 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |