Reibungsmessungen im Mikro- und Nanobereich

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Autor*innen:Erich Santner
Koautor*innen:Dirk SpaltmannORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):VDI Fachtagung "Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik"
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Veranstaltung:VDI Fachtagung "Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik"
Veranstaltungsort:Stuttgart, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2003-02-13
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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