Can the Rietveld method be successfully applied to the severely superimposed diffraction patterns of technical products containing seven solid solutions and a stoichiometric phase?
Autor*innen: | Burkhard Peplinski, Peter Köcher, Gerd Kley |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Materials structure in chemistry, biology, physics and technology |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
Verlag: | CSCA |
Verlagsort: | Praha |
Jahrgang/Band: | 11 |
Ausgabe/Heft: | 1a |
Erste Seite: | 40 |
Letzte Seite: | 41 |
Veranstaltung: | IX. European Powder Diffraction Conference |
Veranstaltungsort: | Prague, Czech Republic |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-09-02 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2004-09-05 |
URL: | http://www.xray.cz/epdic/abstracts/115.htm |
ISSN: | 1211-5894 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |