Can the Rietveld method be successfully applied to the severely superimposed diffraction patterns of technical products containing seven solid solutions and a stoichiometric phase?

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Autor*innen:Burkhard Peplinski, Peter Köcher, Gerd Kley
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Materials structure in chemistry, biology, physics and technology
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Verlag:CSCA
Verlagsort:Praha
Jahrgang/Band:11
Ausgabe/Heft:1a
Erste Seite:40
Letzte Seite:41
Veranstaltung:IX. European Powder Diffraction Conference
Veranstaltungsort:Prague, Czech Republic
Beginndatum der Veranstaltung:2004-09-02
Enddatum der Veranstaltung:2004-09-05
URL:http://www.xray.cz/epdic/abstracts/115.htm
ISSN:1211-5894
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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