Can the Rietveld method be successfully applied to the severely superimposed diffraction patterns of technical products containing seven solid solutions and a stoichiometric phase?

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Metadaten
Autor*innen:Burkhard Peplinski
Koautor*innen:Peter Köcher, Gerd Kley
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):9th European Powder Diffraction Conference (EPDIC-9)
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Veranstaltung:9th European Powder Diffraction Conference (EPDIC-9)
Veranstaltungsort:Prague, Czech Republic
Beginndatum der Veranstaltung:2004-09-02
Enddatum der Veranstaltung:2004-09-05
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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