Can the Rietveld method be successfully applied to the severely superimposed diffraction patterns of technical products containing seven solid solutions and a stoichiometric phase?
MetadatenAutor*innen: | Burkhard Peplinski |
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Koautor*innen: | Peter Köcher, Gerd Kley |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 9th European Powder Diffraction Conference (EPDIC-9) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
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Veranstaltung: | 9th European Powder Diffraction Conference (EPDIC-9) |
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Veranstaltungsort: | Prague, Czech Republic |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-09-02 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2004-09-05 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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Eingeladener Vortrag: | Nein |
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