Electrodeposition of CdSe Films: In-Situ Study by Spectroscopic Ellipsometry
- CdSe films grown on Ti-coated polished steel by constant-current deposition from an aqueous solution containing selenosulfite and cadmium nitrilotriacetate have been studied by spectroscopic ellipsometry under in-situ conditions. Ellipsometric parameters, tan? and cos?, were measured both as a function of deposition time at ? = 825 nm and of wavelength (? = 500-900 nm) for constant film thickness from 0.02 µm to 2.3 µm. The model used for data analysis, Ti-substrate | TiO2 | CdSe-film | solution, with optically homogenous phases was valid for film thickness larger than 0.3 µm. Refractive indices and extinction coefficients of the 2.3-µm film were derived for ? = 500900 nm. A direct band-gap of 1.72 eV was determined. The faradaic efficiency of electrodeposition was 0.93 for a current density of 50 µA cm-2.
MetadatenAutor*innen: | J. Reck, Uwe Beck, J. Dohrmann |
---|
Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
---|
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
---|
Sprache: | Englisch |
---|
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Zeitschrift für physikalische Chemie |
---|
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2000 |
---|
Verlag: | Oldenbourg |
---|
Verlagsort: | München |
---|
Jahrgang/Band: | 214 |
---|
Ausgabe/Heft: | 1 |
---|
Erste Seite: | 83 |
---|
Letzte Seite: | 93 |
---|
Freie Schlagwörter: | CdSe Films; Ellipsometry |
---|
DOI: | 10.1524/zpch.2000.214.1.083 |
---|
ISSN: | 0942-9352 |
---|
ISSN: | 2196-7156 |
---|
ISSN: | 0044-3336 |
---|
ISSN: | 0044-3328 |
---|
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
---|
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
---|
Referierte Publikation: | Nein |
---|