Electrodeposition of CdSe Films: In-Situ Study by Spectroscopic Ellipsometry

  • CdSe films grown on Ti-coated polished steel by constant-current deposition from an aqueous solution containing selenosulfite and cadmium nitrilotriacetate have been studied by spectroscopic ellipsometry under in-situ conditions. Ellipsometric parameters, tan? and cos?, were measured both as a function of deposition time at ? = 825 nm and of wavelength (? = 500-900 nm) for constant film thickness from 0.02 µm to 2.3 µm. The model used for data analysis, Ti-substrate | TiO2 | CdSe-film | solution, with optically homogenous phases was valid for film thickness larger than 0.3 µm. Refractive indices and extinction coefficients of the 2.3-µm film were derived for ? = 500–900 nm. A direct band-gap of 1.72 eV was determined. The faradaic efficiency of electrodeposition was 0.93 for a current density of 50 µA cm-2.

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Autor*innen:J. Reck, Uwe Beck, J. Dohrmann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Zeitschrift für physikalische Chemie
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Verlag:Oldenbourg
Verlagsort:München
Jahrgang/Band:214
Ausgabe/Heft:1
Erste Seite:83
Letzte Seite:93
Freie Schlagwörter:CdSe Films; Ellipsometry
DOI:10.1524/zpch.2000.214.1.083
ISSN:0942-9352
ISSN:2196-7156
ISSN:0044-3336
ISSN:0044-3328
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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