Evaluation of mechanical properties in the nanometer range - trueness and precision
- The aim of this study was to evaluate the limitations in the nanometer range film thickness for the application of instrumented indentation test (IIT) and to prepare an accuracy experiment (round robin) for validation of IIT and certification of coating/substrate systems.
MetadatenAutor*innen: | Michael Griepentrog |
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Koautor*innen: | Thomas Chudoba, Alexander Dück, Uwe Beck |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | The 51st Annual Conference on Mass Spectrometry (AIST 2003) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
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Veranstaltung: | The 51st Annual Conference on Mass Spectrometry (AIST 2003) |
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Veranstaltungsort: | Tsukuba, Japan |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2003-05-14 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2003-05-16 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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