X-ray refraction: A new method for nondestructive characterization of advanced ceramics

  • Quantitative X-ray refraction topography is applied for improved nondestructive evaluation of advanced high performance ceramics. The method is based on X-ray small angle scattering by refraction of X-rays due to density differences of microstructures in heterogeneous materials. It determines the amount of inner surfaces and interfaces within the range of µm to nm dimensions. As the scattered refraction intensity is proportional to the inner surface density of a sample, a reference standard gives a quantitative measure for analytical requirements. X-ray refraction scanning topography visualizes integral interface properties at 10 µm spatial resolution by two-dimensional computer images. Characteristic microstructure parameters, i.e. density fluctuation, porosity and pore size distribution of several examples of SiO[2]-and SiC ceramics at different stages of sintering are presented.

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Autor*innen:Karl-Wolfram Harbich, Manfred P. Hentschel, Jörg Schors
Persönliche Herausgeber*innen:P. Vincenzini
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Ceramics: getting into the 2000's / Pt. D: Including sections I - J - SM
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Herausgeber (Institution):Convegno Internazionale sulle Moderne Tecnologie Ceramiche, Firenze
Verlag:Techna
Verlagsort:Faenza
Ausgabe/Heft:16
Erste Seite:345
Letzte Seite:352
Freie Schlagwörter:Advanced ceramics
Veranstaltung:9th World Ceramics Congress and Forum on New Materials ; 9th CIMTEC
Veranstaltungsort:Florence, Italy
URL:http://cat.inist.fr/?aModele=afficheN&cpsidt=1811372
ISBN:88-86538-17-0
Bemerkung:
Serientitel: Advances in science and technology – Series title: Advances in science and technology
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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