Characterization of thin metastable vanadium oxide films by Raman spectroscopy

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Autor*innen:J.P. Schreckenbach, Klaus Witke, D. Butte, G. Marx
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Fresenius' journal of analytical chemistry
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Verlag:Springer
Verlagsort:Berlin
Jahrgang/Band:363
Ausgabe/Heft:2
Erste Seite:211
Letzte Seite:214
ISSN:0937-0633
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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