X-ray diffraction and refraction topography of light weight materials

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Autor*innen:Manfred P. Hentschel, Axel Lange, Karl-Wolfram Harbich, Jörg Schors, Oliver Wald
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Conference proceedings of the NDT 2002
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Verlag:British Institute of Non-Destructive Testing
Verlagsort:Northampton
Erste Seite:275
Letzte Seite:280
Veranstaltung:Annual conference of the British Institute on Non-Destructive Testing ; NDT 2002
Veranstaltungsort:Southport, England, UK
Beginndatum der Veranstaltung:2002-09-17
Enddatum der Veranstaltung:2002-09-19
ISBN:0-903132-30-3
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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