Surface analytical measurements (XPS, ToF-SIMS, NEXAFS) of organosilane functionalized substrates to be used as microarray platforms
MetadatenAutor*innen: | Nora Graf |
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Koautor*innen: | Paul Dietrich, W. Weigel, Andreas Lippitz, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | 11th Status Seminar "Chip Technologies" (Dechema) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2009 |
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Veranstaltung: | 11th Status Seminar "Chip Technologies" (Dechema) |
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Veranstaltungsort: | Frankfurt am Main, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2009-03-05 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2009-03-06 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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