Surface chemical analysis of nano-scaled r. f. plasma polymer and Co-polymer films by using a combination of "In-Situ" and ex-situ characterization tools: hydroxylated and aminated surfaces by XPS, ToF-SIMS and NEXAFS spectroscopy

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Metadaten
Autor*innen:Wolfgang UngerORCiD
Koautor*innen:Andreas Lippitz, Sufal Swaraj, Eda Jagst
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):54th AVS International Symposium and Exhibition, American Vacuum Society
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Veranstaltung:54th AVS International Symposium and Exhibition, American Vacuum Society
Veranstaltungsort:Seattle, WA, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2007-10-14
Enddatum der Veranstaltung:2007-10-19
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag (wissenschaftliche Konferenzen):Nein
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